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NIMO TEMPO®是一款專門用於測量人工晶體的波前感測器✘·。它是一種創新的干涉儀經過最佳化可測量任何型別的人工晶體↟◕,包括衍射設計✘·。該儀器由其專用軟體TEMPO-MENTOR®控制↟◕,該軟體具有MENTOR軟體系列(CLE₪◕◕、IOL₪◕◕、PMTF)的所有好評的功能↟◕,適用於研發環境和生產環境✘·。測量是在現場進行的│◕:將溶液盒放入干涉儀↟◕,成像系統獲得一組相位偏移的影象✘·。然後TEMPOMENTOR ®重建人工晶體的波前↟◕,並採用複雜的光學計算從MTF Through Focus曲線中計算出鏡片
檢視詳情NIMOevo角膜接觸鏡光學分析儀可針對所有型別的隱形眼鏡進行乾溼狀態測定↟◕,無論是單焦₪◕◕、環曲面₪◕◕、多焦還是多焦環曲面人工晶狀體↟◕,該儀器均具有的可重複性和可復現性✘·。儀器無須每日校準↟◕,其人性化操作介面可提供多種操作並支援全程追溯✘·。適用於硬性透氧性隱形眼鏡及軟性隱形眼鏡可測量球面₪◕◕、多焦₪◕◕、非球面₪◕◕、環曲面等隱形眼鏡高解析度光焦度分佈圖及光焦度資料自動識別的環曲面隱形眼鏡標記測定動態範圍 -30.00D至+30.00D使用Zernike係數來進行波前分析乾溼測定均可應用範圍適用所有型別的隱形眼鏡
檢視詳情NIMO MATRIX批次測量-人工晶體採用享譽世界的NIMO技術及其應用優勢↟◕,批次測量數千人工晶狀體↟◕,滿足生產線大批次測量需求✘·。單個工作日即可測量數千人工晶狀體單次點選可檢測多達121片人工晶狀體每小時可檢測200至400片人工晶狀體高解析度光焦度測繪儀及波前像差分析儀適用單焦₪◕◕、環曲面₪◕◕、多焦₪◕◕、多焦環曲面各種人工晶狀體靈活的矩陣托盤設計一次性校準適用於乾溼檢測環境針對測量時達到液體無波動狀態而設計的固定IOL矩陣盤應用範圍適用於單焦₪◕◕、環曲面₪◕◕、多焦₪◕◕、多焦環曲面人工晶體
檢視詳情Multilens人工晶狀體測量儀的功能要求│◕:1.1採用Phase-Shifting Schlieren測量原理1.2自動識別環曲面人工晶狀體的標記1.3高畫質晰光焦度分佈圖1.4全自動環曲面人工晶體測定1.5適用於乾溼檢測環境1.6可*自定義程式1.7適合單焦₪◕◕、環曲面₪◕◕、多焦₪◕◕、多焦環曲面人工晶狀體1.8動態測量範圍-100D~+100D1.9方便應用於自動化生產線2.0一次性校準Multilens人工晶狀體測量儀的硬體規格│◕:2.1檢測區域│◕:8x8mm22.2通光孔徑│◕:最大直徑為8mm2.3光線波長
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