反射率測量儀

iR-2反射率測量儀

可精確測量目前分光光度計無法測量的微小│╃╃·、超薄│╃╃·、弧面樣品的光譜反射率│▩，不會與樣品背面的反射光產生干涉；是測量曲面反射率│╃╃·、鍍膜評價│╃╃·、微小部品的反射率測定系統；實現非破壞性測量最佳方案↟☁▩。符合BS EN ISO 12132; GB 10810.4; QBT 2506 標準↟☁▩。

iR-2反射率測量儀☁☁│：

1消除背面反射光

採用特殊光學系統│▩，消除背面反射光↟☁▩。 不必進行背面的防反射處理│▩，可正確測定弧度鏡片表面的反射率↟☁▩。

2可測定微小區域的反射率（消除曲面反射測試帶來的誤差）


用物鏡對焦於樣本表面的微小光斑（ø60 μm）│▩，可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻↟☁▩。

3測定時間短


由於使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線感測器的高速分光測光機構│▩，可以進行快速│╃╃·、高重複性的測定↟☁▩。

4支援XY色度圖│╃╃·、L*a*b*測定


可以依據分光測色法│▩，透過分光反射率測定物體顏色；比較色差↟☁▩。更真實反映材料主觀感受色彩↟☁▩。

5綜合對比反射均勻度測量

提供6組資料對比│▩，可在測試區域內任意取點測量│▩，分析鏡片各部分反射均勻性↟☁▩。