反射率測量儀介紹
可精確測量目前分光光度計無法測量的微小◕✘、超薄◕✘、弧面樣品的光譜反射率◕│，不會與樣品背面的反射光產生干涉；是測量曲面反射率◕✘、鍍膜評價◕✘、微小部品的反射率測定系統；實現非破壞性測量最佳方案•↟✘•。符合BS EN ISO 12132; GB 10810.4; QBT 2506 標準•↟✘•。
產品內容
1消除背面反射光
採用特殊光學系統◕│，消除背面反射光•↟✘•。 不必進行背面的防反射處理◕│，可正確測定弧度鏡片表面的反射率•↟✘•。
2可測定微小區域的反射率（消除曲面反射測試帶來的誤差）
用物鏡對焦於樣本表面的微小光斑（ø60 μm）◕│，可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻•↟✘•。
3測定時間短
由於使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線感測器的高速分光測光機構◕│，可以進行快速◕✘、高重複性的測定•↟✘•。
4支援XY色度圖◕✘、L*a*b*測定
可以依據分光測色法◕│，透過分光反射率測定物體顏色；比較色差•↟✘•。更真實反映材料主觀感受色彩•↟✘•。
5綜合對比反射均勻度測量
提供6組資料對比◕│，可在測試區域內任意取點測量◕│，分析鏡片各部分反射均勻性•↟✘•。
使用方法
1◕✘、把探頭與電控箱連線◕│，同時接上電源◕│，開機預熱10-15分鐘•↟✘•。此時應把探頭放在黑色標準板上為佳•↟✘•。
2◕✘、校零│✘：把探頭放在白色標準板上◕│，調整主機上的校零旋鈕◕│，使主機數字顯示為000.0◕│，允許變動±0.1.
3◕✘、校正標準值│✘：把探頭放在白色標準板上◕│，調整主機的校標旋鈕◕│，使主機顯示的數值與白色標準板的標定一致•↟✘•。允許變動±0.1反覆調整一次（校零◕✘、校標）•↟✘•。
4◕✘、測量RB值│✘：把探頭移至放有試樣的黑色工作陶瓷板上◕│，顯示器所顯示的數值即為RB值•↟✘•。
5◕✘、測量RW值│✘：把探頭移至放有試樣的白色工作陶瓷板上◕│，顯示器所顯示的數值即為RW值•↟✘•。
6◕✘、計算求得對比率對比率（這機率）=RB/RW×100%•↟✘•。
