反射率測量儀的使用方法

可精確測量目前分光光度計無法測量的微小╃│││、超薄╃│││、弧面樣品的光譜反射率•◕，不會與樣品背面的反射光產生干涉；是測量曲面反射率╃│││、鍍膜評價╃│││、微小部品的反射率測定系統；實現非破壞性測量最佳方案▩│☁。符合BS EN ISO 12132; GB 10810.4; QBT 2506 標準▩│☁。

 

產品內容

 

1消除背面反射光

 

採用特殊光學系統•◕，消除背面反射光▩│☁。 不必進行背面的防反射處理•◕，可正確測定弧度鏡片表面的反射率▩│☁。

 

2可測定微小區域的反射率（消除曲面反射測試帶來的誤差）


 

用物鏡對焦於樣本表面的微小光斑（ø60 μm）•◕，可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻▩│☁。

 

3測定時間短


 

由於使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線感測器的高速分光測光機構•◕，可以進行快速╃│││、高重複性的測定▩│☁。

 

4支援XY色度圖╃│││、L*a*b*測定


 

可以依據分光測色法•◕，透過分光反射率測定物體顏色；比較色差▩│☁。更真實反映材料主觀感受色彩▩│☁。

 

5綜合對比反射均勻度測量

 

提供6組資料對比•◕，可在測試區域內任意取點測量•◕，分析鏡片各部分反射均勻性▩│☁。

 

使用方法  

 

1╃│││、把探頭與電控箱連線•◕，同時接上電源•◕，開機預熱10-15分鐘▩│☁。此時應把探頭放在黑色標準板上為佳▩│☁。

 

2╃│││、校零◕✘◕：把探頭放在白色標準板上•◕，調整主機上的校零旋鈕•◕，使主機數字顯示為000.0•◕，允許變動±0.1.

 

3╃│││、校正標準值◕✘◕：把探頭放在白色標準板上•◕，調整主機的校標旋鈕•◕，使主機顯示的數值與白色標準板的標定一致▩│☁。允許變動±0.1反覆調整一次（校零╃│││、校標）▩│☁。

 

4╃│││、測量RB值◕✘◕：把探頭移至放有試樣的黑色工作陶瓷板上•◕，顯示器所顯示的數值即為RB值▩│☁。

 

5╃│││、測量RW值◕✘◕：把探頭移至放有試樣的白色工作陶瓷板上•◕，顯示器所顯示的數值即為RW值▩│☁。

 

6╃│││、計算求得對比率對比率（這機率）=RB/RW×100%▩│☁。